Patentes
- Dispositivo opto-electrónico y métodos para determinar parámetros ópticos de una lente o sistema de lentes
L.M. Sánchez-Brea, F.J. Torcal Milla
num. Patente: ES 2600503 B2 fecha de concesión: 03/10/2017
Entitudad titular: Universidad Complutense de Madrid
- Métodos y dispositivos optoelectrónicos para colimar y/o para determinar el grado de colimación de un haz de luz
L.M. Sánchez-Brea, J.M. Herrera-Fernandez
num. Patente: ES2549977B2 fecha de concesión: 18/02/2016
Entitudad titular: Universidad Complutense de Madrid
- Dispositivo opto-electrónico y métodos para colimar y determinar el grado de colimación de un haz de luz
L.M. Sánchez-Brea, F.J. Torcal Milla
num. Patente: ES2540921B2 fecha de concesión: 01/02/2016
Entitudad titular: Universidad Complutense de Madrid
- Sensor óptico de la posición absoluta, con un fotodetector de imagen
T. Morlanes Calvo, L.M. Sánchez Brea
num. Patente: ES2199686 B1, fecha de concesión: 01/09/2005
Entitudad titular: Fagor S. Coop.
Empresa explotadora: Fagor Automation S. Coop
- Device for the detection of surface defects on cylinders
E. Bernabeu, J.C. Martínez-Antón, L.M. Sánchez-Brea, P. Siegmann, C. Kraemer
num. Patente: WO/2003/044505, fecha de publicación: 30/05/2003
País de prioridad AU, CA, JP, US. European Patent Office
Entitudad titular: Universidad Complutense de Madrid
Empresa explotadora: Zumbach Electronics (Suiza)
- Dispositivo para la detección de defectos superficiales sobre cilindros
E. Bernabeu, J.C. Martínez-Antón, L.M. Sánchez-Brea, P. Siegmann, C. Kraemer
num. Patente: ES2187381, fecha de publicación: 01/06/2003
Entitudad titular: Universidad Complutense de Madrid
Empresa explotadora: Zumbach Electronics (Suiza)